数字电位器
8252
直流电压测量：3 V～200 V量程，最小分辨率10 μV
直流电流测量：30 pA～30 mA范围，最小分辨率1 fA
电阻测量：3 kΩ～200 GΩ范围，最小分辨率10 mΩ
电荷测量：1 nC～10 μC范围，最小分辨率1 fC
±200 V的电压发生功能
通过施加电压电阻测量，可测量2×1017 Ω
凭借各种扫频测量功能，非常适合各种设备评估。
8252是一款具有±200 V电压发生功能的5½位高性能数字电容计。 能够测量1 fA的电流，在±210 V范围内测量2×1014 Ω的高输入阻抗电压，测量210 GΩ的电阻，测量1fC的电荷等。
此外，通过具备各种扫频功能的电压发生器，非常适合各种器件和材料的评估。在电流测量方面，采用积分方式（ICV），具有抗感应噪声能力，并且能够进行高速测量。
此外，在绝缘电阻测量中，通过VSRM（施加电压电阻测量）功能，可测量2×10^17 Ω。
特点
电压发生与各种扫描功能
8252内置±200 V可编程电源。其工作模式分为测量与非同步运行的正常模式，以及与测量同步变化的扫描模式。扫描模式分为固定、线性、随机三种类型，可根据应用选择最佳的扫描测量方式。
固定扫频测量
用于在准确的充电时间后测量绝缘电阻
偏置值：扫频开始前的用户设置值
Td：测量延迟
线性扫描测量
用于测量二极管、FET 等半导体的 I-V 特性
随机扫频测量
用于与随机电压发生器同步的高速测量
可进行最小化噪声影响的测量
传统的电容计由于输入阻抗较高，虽然能够进行微小电流测量和高电阻测量，但存在对外部感应噪声敏感的缺点。8252采用了以下功能，使得能够进行最大限度减少噪声影响的测量。
防止因电缆振动产生的噪声，低噪声双同轴（三轴）电缆的输入电缆
采用抗噪积分方式
- 相比传统反馈方式，改善了抗噪性能的积分型电流-电压转换器
- 实现了高动态范围，可实现高降噪率（可消除满量程2～3倍的噪声）的AD转换器
- 积分时间可变，范围为1 ms～1 s通过移动平均去除噪声的平滑功能
能够高速测量高阻抗信号源电压和电阻的驱动保护功能
在电压和电阻测量中，当信号源电阻或被测电阻较大时（100 MΩ以上），由于电缆的电容以及Hi-Lo端子之间的浮动电容，响应速度会变慢。例如，当信号源电阻为1000 MΩ，电缆电容为100 pF时，根据此时的100 ms时间常数（t=100 ms），响应达到最终值的±0.1%以内所需的时间约为700 ms。8252采用了驱动保护方式来改善这一响应速度，通过将输入电缆内部的屏蔽层驱动至与输入电压相同的电位，使得从Lo端子看时的阻抗看起来为零。此外，通过电缆和连接器从测量输入端子流向Lo端子的漏电流也会减少，从而使表观绝缘电阻也更高。利用这一功能，响应速度可提高10倍以上。
通过驱动保护进行的测量：
当进行驱动保护时，输入电缆的芯线与内部屏蔽层处于同电位，输入电缆的电容CX1会被忽略。此外，由于内部屏蔽层与外部屏蔽层之间的阻抗较低，CX2也会被忽略。
检测接触不良的接触检查功能
8252通过接触检测功能，能够检测测量电缆与样品或测量电极、夹具与样品之间的接触不良。该接触检测功能在DCI功能30 pA～300 μA范围内，在正常模式下每次测量时，以及在扫描模式下扫描开始时，通过测量测量输入端子与LO端子，或电压发生端子之间的电容来进行判断。
最适合线用操作员的控制器接口和通过/失败判定功能
8252除了配备GPIB和TRIGGER、COMPLETE、INTERLOCK的单线信号外，还标配了用于与自动化设备接口的处理器接口。此外，它具备比较运算功能，结合接触检查功能使用时，能够输出反映比较判定结果和接触检查结果的PASS/FAIL信号。在电容漏电测试、绝缘电阻测试等场景中，能够实现高速自动分选。
应用程序
各种半导体的评估、自动检测
8252除了具备1 fA电流测量和10 μV电压测量功能外，还配备了VSIM（电压产生电流测量）/ISVM（电流产生电压测量）功能，这些组合使得广泛的半导体评估测试成为可能。此外，标准配置包含GPIB、HandlerIF以及各种单线信号，因此也是评估系统的理想组件。
高分辨率的8252非常适合在数pA以下的微小电流下进行I-V特性测量，例如测量光电二极管（PD）的暗电流特性和MOSFET的栅极电流。通过支持高达5000步的生成和测量数据存储的线性扫描功能，以及可设置测量范围移动范围的自动范围测量，还有可设置每个范围延迟的自动范围延迟功能，可以实现稳定且高速的最佳测量
±200 V电源配备了10 μA分辨率的电流限制器（设置范围：0.1 mA～12 mA），可分别设置正负极。此外，还支持100 μV分辨率的电压监测和100 nA分辨率的电流监测。当电流测量在100 nA～12 mA范围内时，仅使用OUTPUT端子即可进行VSIM测量，无需使用INPUT端子。此外，还支持使用电流限制器（设置范围：0.1 mA～12 mA）和电压监测进行ISVM测量。通过将INPUT端子设置为DCV或DCI功能，一台设备即可完成两台设备的测量。
电压电流发生器6253和6254、6240B等，可以组合构建半导体评估系统。8252的设计理念与电压电流发生器相同，因此可以通过单线信号与这些设备同步进行测量。8252可以根据需要选择最佳组件，例如用于FET栅极等微小电流测量侧的组件，大电流测量侧的6254（20 A），高电压侧的6253（110 V），以及低电压侧的6240B （15 V/1 A）。
用于高阻抗信号源的电压测量
用于高阻抗信号源的电压测量
用于绝缘电阻测量
使用VSRM（电压施加电阻测量）功能，可对各类电子元件、电缆、IC封装等的绝缘电阻进行测量。测量范围为100Ω～2×1017 Ω，覆盖范围宽广，因此一台设备即可测量从导电橡胶等低电阻材料到迈拉膜等高电阻材料的各种样品。此外，通过固定扫频功能，可进行准确的1分钟充电后的测量，并且通过使用计算功能，还能分析样品长时间变化（最大值、最小值、平均值等）的情况。
开关、继电器的漏电流、绝缘电阻测量
电容器、电缆的绝缘电阻测量
印刷电路板的绝缘电阻测量
体积电阻、表面电阻测量
（15702、12704A、12708的并用时）胶片（迈拉、塑料、纸等）
玻璃、陶瓷、橡胶等
绝缘油、清漆等
半导体材料等
用于测量碳粉和高分子材料的电荷
配件8031法拉第笼和47W电荷测量适配器组合，通过连接8252，即可实现对碳粉等电荷的测量。由于可测量高达10 μC的电荷，因此非常适合对化学纤维和IC封装等带电荷的物体进行测量。
用于电解分析等
8252除了最大值、最小值、平均值等运算外，还具备积分功能。通过积分功能和固定扫频功能，可以测量长时间内的电流积分值（最长可达83小时）。在电解、电镀实验等中，它能有效计算一定时间内的流过电荷量。
电解分析
电镀
定电位电解
| 表示桁数 | 5½桁 | |
| 电压测量 | 输入阻抗 | 2×1014 Ω |
| 测量范围 | 10 μV～200 V | |
| 电流测量 | 测量方式 | 积分 |
| 测量范围 | 1 fA～30 mA | |
| 电阻测量 | 测量范围（电流施加方式） | 10 mΩ～200 GΩ |
| 测量范围（施加电压方式） | 100 Ω～2×101 7Ω | |
| 电荷测量 | 测量范围 | 1 fC～10 μC |
| 电压发生 | 发生范围 | ±200 V |
| 分解能 | 1 mV | |
| 采样率 | 330回/秒 | |
| 序列功能 | 〇 | |
| 接口 | GPIB | |
| 处理器接口 | 〇 | |
| 模拟输出 | 〇*1 | |
上述内容中可能存在未完全列出的规格及注释等。
标准配件
| 名称 | 型号 | 数量 |
| 电源线 | A01402 | 1 |
| 输入线（TRIAX-みの虫 1 m） | A01010 | 1 |
| 输入输出线缆（安全插头） | A01044 | 1 |
香蕉片适配器（A01044用） | A08531 | 1 |
| 鳄鱼口夹/适配器（A01044用） | A08532 | 1 |
| 短插头（8252用） | A140001 | 1 |