数字超高电阻 / 微电流计
5450/ 5451
5½桁表示的高分辨率
微小电流测量：1 fA～19.9999 mA
高电阻测量：3×1017 Ω（电流功能下）
电压输出：±1000 V、最小±1 mV
高速测量：最高1000采样/秒
可进行1000 V的浮动测量（5450）
测量时也能测量温度和湿度（需搭配单独销售的配件使用）
只需选择测量条件即可进行测量的预设功能
内置方便进行例行测量的序列程序功能
5450/5451 是在ADC创立以来的传统技术基础上，进一步加入了全新的直流放大器技术，并结合了长期以来深受用户喜爱的反馈，大幅改善了易用性，是一款任何人都能获得相同测量结果的最新型5.5位显示超高电阻/电流表，也是用于各种绝缘体和半导体等绝缘电阻测量以及微小电流测量的标准仪器。
具有这种高性能的5450/5451，可用于二次电池和半导体材料的测试，以及电容器、印刷电路板等电子元件的测试，此外还可用于各种合成树脂和橡胶材料等绝缘材料的研发、制造和质量检测等广泛领域。
特点
实现高速、高性能测量
5450/5451在微小电流测量中，可测量1 fA～19.9999 mA，在高电阻测量中，可测量3×1017 Ω（电流功能时）的测量，实现了高性能。而且，其最高1,000次/秒的采样速度，在电子元件生产线上的Go/No-Go筛选等应用中也大显威力。
强劲且灵活的电压产生
内置的电压发生器，开发出了一种能够提供±1000 V、最大10 W的电源。这种新型电源可以施加负电压，因此除了能够测量p型和n型半导体，以及使用反向偏置电压工作的APD（雪崩光电二极管）等外，还能辅助电容器的充放电。
此外，还可以任意设置电流限制值，从而保护半导体评估中因击穿而导致的过电流。
根据需要选择电流表的响应
在实际的超高电阻测量和微小电流测量中，由于周围的噪声环境，测量有时会变得困难。另一方面，在不受噪声影响的环境中，人们希望能够进行高速测量，因此需要根据不同的应用场景采取各种使用方法。
5450/5451采用可变增益反馈方式构成，可选择电流表的响应速度。通过这种方式，可以根据应用场景和所需的测量精度，选择对干扰噪声具有较强抵抗力的测量方式，或者优先考虑响应速度以提高测量速度，从而实现可靠的测量。
接地样品也稳定测量
5450/5451支持浮动测量。
5451最高可达46 V峰值，而5450支持最高1000 V峰值的浮动测量，因此即使样品处于接地状态，也可以进行测量。
可根据用途立即使用的预设功能
在超高电阻和微小电流测量中，需要根据应用场景进行各种最佳设置，例如放大器增益、积分时间、输入电阻，甚至在测量表面电阻率和体积电阻率时，还需要设置电极系数等。
在5450/5451中，例如，在测量体积电阻率/表面电阻率时使用附件，或进行微小电流测量时的皮安计设置，以及测量电容漏电流等，共设置了10种预设条件，因此无需进行繁琐的测量条件设置，只需根据应用场景选择即可立即开始测量。
当然，也内置了可以自行设置测量条件的“用户参数设置”功能。
方便进行例行测量的序列程序功能
5450/5451具有序列程序功能，可以记忆7种模式的测量步骤、条
件等序列。
利用此功能，可以轻松进行符合JIS标准规定的绝缘电阻测量
在施加电压1分钟后的评估，此外，由于可以记忆设定的条件，
即使测量人员不同，也能获得相同的测量结果。
采用更安全的输入连接器
在绝缘电阻测量中，如果进行浮动测量，输入端子与驱动保护之间（内侧屏蔽）会产生与设定电压相反极性的电压。传统的Triax连接器金属部分会暴露在外，绝对不能保证安全。5450采用了更安全的Safety Triax（S-Triax）连接器，因此您可以安心专注于测量。
以图表形式显示测量值随时间的变化情况
在测量电容器漏电流时，刚施加直流电压时，会流过一个称为“突入电流”的电流，其大小与电容成正比，随后该电流几乎呈指数级下降。这种电流被称为“吸收电流”，是由于样品内部介质极化过程中随时间变化而产生的。即使该电流达到平衡，仍残留的电流即为漏电流。在此，指数级下降的吸收电流达到平衡值所需的时间因介质材料而异，有时需要相当长的时间。为了正确测量漏电流，判断吸收电流何时稳定至关重要。因此，在5450/5451中，我们利用点阵LCD，使其具备将测量值的时间变化以图表形式显示的机能，从而能够直观地观察到这种行为的测量值。
这里右侧是图表显示。左侧显示了经过时间、测量值的最大值、最小值以及施加电压。
快速检测样品接触不良——接触检查功能
具备能够快速检测容量性样品（电容器）与测量电缆或测量电极接触不良的接触检查功能。该功能可在指定时间或每次测量时执行，通过预先进行开路（初始值测量），可以消除测量电缆或测量电极的容量，从而更准确地检测样品。
自动范围也高速测量
设置会在设备测量与测量之间进行切换动作，并且需要排程时间
才能移动到测量
值的范围，因此无法提高速度。
因此，通常的做法是使用固定范围
进行测量。
但是，本设备在自动范围模式下也可以设置范围的上下限。
通过将其设置为必要最小的自动范围，可以以最少
应用程序
一键设置JIS标准电阻率测量条件
为了测量绝缘体的体积电阻率和表面电阻率，根据材料的不同，有各自的JIS标准，且电极尺寸各不相同。在5450/5451中，我们预设了常用的代表性电极尺寸作为预设功能，因此即使是测量各种绝缘体，也能通过简单的设置进行测试。
| 应用程序 | 说明 | |
| 高速电流测量 | 作为皮安计使用。用于高速测量微小电流的设置。 | |
| IR测量 | 0.04 μF 以下 | 适用于测量0.04 μF以下电容的IR设置。 |
| 0.04 μF ～4 μF | 适用于 0.04 μF 至 4 μF 电容器的 IR 测试设置。 | |
| 超过 4 μF 的容量 | 适用于测量容量超过4 μF的电容器的IR设置。 | |
| JIS测量 | K6911 | 适用于Φ50电极。 |
| K6723 | 适用于Φ70电极。 序列程序No.2将运行，并在1分钟后显示体积或表面电阻率。需要设置Vol/Surf以及样品厚度和产生电压。 | |
| C2170 | Φ30.5，用于电极。 序列程序No.2运行，在10 V的产生电压下显示15秒后的体积或表面电阻率。需要设置Vol/Surf和样品厚度。 | |
| 12707液体电极 | 这是适合测量液晶材料体积电阻率的设置。 序列程序No.2将运行，并在1分钟后显示5 V下的体积电阻率。 | |
| 绝缘电阻测量 | 在无屏蔽环境的情况下测量高阻抗材料，这是具有高抗噪性的设置。需要设置发生电压。 | |
| 输入电阻1 kΩ | 无论测量范围如何，输入电阻均为1 kΩ。 | |
| JIS编号 | 电极尺寸 | JIS名称 |
| K6911 | φ50 | 热固性塑料 |
| K6723 | φ70 | 软质聚氯乙烯复合材料 |
| C2170 | φ30.5 | 防止静电荷积累的个体平面材料 |
±1,000 V的电压产生，实现精确的JIS K6911测量
JIS K6911是塑料等绝缘体体积电阻率和表面电阻率测量的基本标准，其中表面电阻率测量规定主电极相对于环形电极施加负电压。5450/5451配备了能够产生±1,000V负电压的双极电压源，因此可以进行符合JIS标准的精确表面电阻率测量。
用于印刷电路板的绝缘电阻测量
使用配件12603测试探针，即可测量印刷电路板的绝缘电阻。
太阳能电池漏电流（PID）测试
用于Mega Solar的太阳能电池在高温高湿环境下，会因输出高电压而在模块电路内产生漏电流，导致输出下降，即发生PID（电位诱导降解）现象。PID现象是由太阳能电池表面强化玻璃、电池片、背板、铝框架等相互作用引起的，要评估这一现象，需要测量电池片与框架之间的漏电流。由于需要对接地电池片施加负电压，因此能够进行-1000V浮动测量的5450是最理想的。
用于电缆绝缘电阻测量
5450支持DC1,000 V的浮地测量，因此适用于测量被测物接地电缆的绝缘电阻以及变压器等设备的绝缘电阻。
作为半导体和电子元件评估系统的组件
5450/5451除了具备最高1,000次/秒的高速测量能力外，还配备了65,000的数据内存、处理器接口等。通过使用电脑，将其与扫描仪和处理器结合，在半导体和电子元件的自动分选等领域展现出强大的性能。
±1000 V的扫频功能用于半导体耐压测试
5450/5451具有可进行±1,000 V的4位数字设置分辨率扫描的序列程序功能。使用此功能，可以对半导体等进行精确的耐压测试。
新材料、高分子材料的研究与开发……丰富的配件
使用附件的电阻率腔，可以轻松测量材料的体积电阻率和表面电阻率。通过5450/5451的顺序程序功能和LID信号，系统会在盖子开合的时刻自动按照预设程序对样品进行放电→充电→测量。
因此，只需设置一次测量条件，就能始终在恒定条件下进行测量，从而防止因操作员操作失误导致的测量不良。除了各自的电阻率腔外，还可以输入任意的电极系数，用于计算体积电阻率和表面电阻率所需的电极系数。
开关、继电器的漏电流、绝缘电阻测量
电容器、电缆的绝缘电阻测量
印刷电路板的绝缘电阻测量
体积电阻、表面电阻测量
（15702、12704A、12708的并用时）胶片（迈拉、塑料、纸等）
玻璃、陶瓷、橡胶等
绝缘油、清漆等
半导体材料等
我们为您准备了适合这些测量的样品箱和测试夹具。
| 5450 | 5451 | ||
| 表示桁数 | 5½桁 | ||
| 电流测量 | 测量方式 | 可变反馈 | |
| 测量范围 | 1 fA～20 mA | ||
| 电阻测量 | 测量方式 | 电压施加方式 | |
| 测量范围 | 10Ω～3×1017 Ω | ||
| 直流电源 | 发生范围 | ±1000 V | |
| 分解能 | 1 mV | ||
| 1000 V浮动测量 | 〇（5450のみ） | ||
| 采样率 | 1000次/秒 | ||
| 序列功能 | 〇 | ||
| 接口 | GPIB、USB | ||
| BCD 输出 | △（工厂选项） | ||
| 处理器接口 | 〇 | ||
| D/A 输出 | 〇 | ||
上述内容中可能存在未完全列出的规格及注释等
标准配件
| 名称 | 型号 | 数量 |
| 电源线 | A01402 | 1 |
| 输入线缆 | 5450：CC010003-100 5451：CC010006 | 1 |
| 输出电缆 | CC010005 | 1 |
| 鳄鱼口夹 | CC015005 | 5450：2 5451：1 |
| 短插头 | A140001 | 1 |